自治省告示第183号
昭和54年10月9日
危険物の規制に関する技術上の基準の細目を定める告示の一部を改正する件
危険物の規制に関する規則(昭和34年総理府令第55号)第28条の27の規定に基づき、危険物の規制に関する技術上の基準の細目を定める告示(昭和49年自治省告示第99号)の一部を次のように改正し、昭和54年10月9日から施行する。
第40条中「12mm以下」を「6mm未満」に改める。
第41条第1項第2号ロを次のように改める。
ロ 次の表の上欄に掲げる最大エコー高さの領域(日本工業規格Z3060(1975)「鋼溶接部の超音波探傷試験方法及び試験結果の等級分類方法」の最大エコー高さの領域をいう。以下同じ。)の区分に応じて、同表の下欄に掲げる溶接する母材の厚さの区分に応じた欠陥の指示長さごとに定められた数値を欠陥の評価点とした場合において、1の欠陥の評価点が3以下で、かつ、欠陥の最も密である溶接部の長さ30cm当たり欠陥の評価点の和が5以下のものであること。
最大エコー高さの領域 |
欠陥の指示長さ |
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溶接する母材の厚さ(母材の厚さが異なる場合は、薄い方の母材の厚さとする。以下この表において同じ。)が6mm以上18mm以下のもの |
溶接する母材の厚さが18mmを超えるもの |
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6mm以下 |
6mmを超え9mm以下 |
9mmを超え18mm以下 |
母材の厚さの3分の1以下 |
母材の厚さの3分の1を超え2分の1以下 |
母材の厚さの2分の1を超え母材の厚さ以下 |
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Ⅲ |
1 |
2 |
3 |
1 |
2 |
3 |
Ⅳ |
2 |
3 |
1 |
2 |
3 |
1 |
第41条第1項第3号ロを次のように改める。
ロ 日本工業規格G0565(1974)「鉄鋼材料の磁粉探傷試験方法及び欠陥磁粉模様の等級分類」(以下「磁粉探傷試験規格」という。)の融合不足、スラグ巻込み及びオーバーラップに関する線状磁粉模様(以下「線状磁粉模様」という。)の一種一級、一種二級及び一種三級に該当する欠陥については、当該欠陥の評価点をそれぞれ1、2及び4とした場合において、1の欠陥の評価点が4以下で、かつ、欠陥の最も密である溶接部の長さ30cm当たり欠陥の評価点の和が10(溶接部の長さが30cm未満であるときは、当該長さ(単位は、cmとする。)に相当する数値を3で除した値(小数点以下第2位の数値は、四捨五入する。)とする。ニ並びに次号ロ、ハ及びニにおいて同じ。)以下のものであること。
第41条第1項第3号に次のように加える。
ハ 磁粉探傷試験規格の円形状磁粉模様(以下「円形状磁粉模様」という。)については、当該箇所について浸透探傷試験を行い、次号に定める基準に適合するものであること。
ニ 線状磁粉模様及び円形状磁粉模様の混在する模様については、欠陥の最も密である溶接部の長さ30cm当たり線状磁粉模様及び円形状磁粉模様の欠陥の評価点(円形状磁粉模様については、次号ハに定める欠陥の評価点とする。)の総和が10以下のものであること。
第41条第1項第4号ロ及びハを次のように改める。
ロ 日本工業規格Z2343(1978)「浸透探傷試験方法及び欠陥指示模様の等級分類」(以下「浸透探傷試験規格」という。)の融合不足、スラグ巻込み及びオーバーラップに関する線状欠陥指示模様(以下「線状欠陥指示模様」という。)の一種一級、一種二級及び一種三級に該当する欠陥については、当該欠陥の評価点をそれぞれ1、2及び4とした場合において、1の欠陥の評価点が4以下で、かつ、欠陥の最も密である溶接部の長さ30cm当たり欠陥の評価点の和が10以下のものであること。
ハ 浸透探傷試験規格の円形状欠陥指示模様(以下「円形状欠陥指示模様」という。)の一種一級、一種二級及び一種三級に該当する欠陥については、当該欠陥の評価点をそれぞれ0、1及び4とした場合において、1の欠陥の評価点が4以下で、かつ、欠陥の最も密である溶接部の長さ30cm当たり欠陥の評価点の和が10以下のものであること。
第41条第1項第4号に次のように加える。
ニ 線状欠陥指示模様及び円形状欠陥指示模様の混在する模様については、欠陥の最も密である溶接部の長さ30cm当たり線状欠陥指示模様及び円形状欠陥指示模様の欠陥の評価点の総和が10以下のものであること。
第41条第2項第2号ロを次のように改める。
ロ 次の表の上欄に掲げる最大エコー高さの領域の区分に応じて、同表の下欄に掲げる溶接する母材の厚さの区分に応じた欠陥の指示長さごとに定められた数値を欠陥の評価点とした場合において、1の欠陥の評価点が2以下で、かつ、欠陥の最も密である溶接部の長さ30cm当たり欠陥の評価点の和が以下のものであること。
最大エコー高さの領域 |
欠陥の指示長さ |
|||
溶接する母材の厚さ(母材の厚さが異なる場合は、薄い方の母材の厚さとする。以下この表において同じ。)が6mm以上18mm以下のもの |
溶接する母材の厚さが18mmを超えるもの |
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6mm以下 |
6mmを超え9mm以下 |
母材の厚さの3分の1以下 |
母材の厚さの3分の1を超え2分の1以下 |
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Ⅲ |
1 |
2 |
1 |
2 |
Ⅳ |
2 |
1 |
2 |
1 |
第41条第2項第3号ロを次のように改める。
ロ 線状磁粉模様の一種一級及び一種二級に該当する欠陥については、当該欠陥の評価点をそれぞれ1及び2とした場合において、1の欠陥の評価点が2以下で、かつ、欠陥の最も密である溶接部の長さ30cm当たり欠陥の評価点の和が5(溶接部の長さが30cm未満であるときは、当該長さ(単位は、cmとする。)に相当する数値を3で除した値(小数点以下第2位の数値は、四捨五入する。)とする。ニ並びに次号ロ、ハ及びニにおいて同じ。)以下のものであること。
第41条第2項第3号に次のように加える。
ハ 円形状磁粉模様については、当該箇所について浸透探傷試験を行い、次号に定める基準に適合するものであること。
ニ 線状磁粉模様及び円形状磁粉模様の混在する模様については、欠陥の最も密である溶接部の長さ30cm当たり線状磁粉模様及び円形状磁粉模様の欠陥の評価点(円形状磁粉模様については、次号ハに定める欠陥の評価点とする。)の総和が5以下のものであること。
第41条第2項第4号ロ及びハを次のように改める。
ロ 線状欠陥指示模様の一種一級及び一種二級に該当する欠陥については、当該欠陥の評価点をそれぞれ1及び2とした場合において、1の欠陥の評価点が2以下で、かつ、欠陥の最も密である溶接部の長さ30cm当たり欠陥の評価点の和が5以下のものであること。
ハ 円形状欠陥指示模様の一種一級及び一種二級に該当する欠陥については、当該欠陥の評価点をそれぞれ0及び1とした場合において、1の欠陥の評価点が2以下で、かつ、欠陥の最も密である溶接部の長さ30cm当たり欠陥の評価点の和が5以下のものであること。
第41条第2項第4号に次のように加える。
ニ 線状欠陥指示模様及び円形状欠陥指示模様の混在する模様については、欠陥の最も密である溶接部の長さ30cm当たり線状欠陥指示模様及び円形状欠陥指示模様の欠陥の評価点の総和が5以下のものであること。